五轴超声相控阵自动检测系统

发布时间:2017-05-25 19:13:00.0 放大 缩小

【智能测控技术及系统实验室】

系统介绍

为实现复合材料的大面积快速扫查及R角等复杂结构的自动化检测,本系统基于超声相控阵设备,搭建多轴运动扫查系统并配套开发运动控制软件,将运动位置信号与超声数据采集进行同步,采用一种基于聚集法则自动匹配R角表面的方法,实现复杂型面大型构件的内部缺陷扫描成像。基于Multi2000开放的可配置FPGA寄存器参数端口开发了客户端软件,用于对FPGA应用参数的实时配置,为复杂工件相控阵FPGA自适应算法开发提供实验平台。

 

技术创新点

与机械运动轨迹的数据关联同步可以实时扫查成像;

对任意深度进行有效电子聚焦、高效率的自动化,实现复合材料的大面积整体快速扫查;

可进行基于高精度扫查的FPGA算法研究。

 

技术参数

名称

参数

可检构件最大尺寸

1500×1500mm

扫查速度

500mm/s

扫查路径

自动化,轨迹可编程

扫查精确度

±0.02mm

支持FPGA自适应算法

 

NDT&E International. 2016, 84: 20-26. SCI一区期刊

中科院仪器功能性开发—超声相控阵复杂结构复合材料检测

中科院仪器功能性开发—材料晶粒尺寸的超声无损评价系统功能性开发

横向合作项目—军品轴承近表面及内部裂纹超声检测系统开发

 

(韩军课题组供稿)